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《材料分析技术》复试考试大纲
适用专业名称：材料学、材料加工工程、材料工程
考试大纲
一、 考试目的与要求
了解 X 射线衍射分析和电子显微分析的基本概念，掌握用 X 射线衍射和电子显微技术分析材料结构、微观组织的基本原理和方法。
二、 试卷结构（满分 30 分）
内容比例：
1．基本概念 50%
2．用 X 射线衍射技术分析材料结构的基本原理和方法 25%
3．用电子显微技术分析微观组织的基本原理和方法 25%
题型比例：
1．概念题约50％
2．分析论述题约50%
三、考试内容与要求
（一）X 射线衍射分析
1.了解 X 射线与物质相互作用的相关概念。
2.了解与 X 射线衍射方向和衍射强度相关的基本概念。
3.掌握结构分析和物相分析的原理。
（二）电子显微分析
1.了解电子束与物质相互作用时产生的物理现象及相关概念。
2.掌握扫描电镜的特点及应用。
3.掌握透射电镜的特点及应用。
四、参考书目
《现代材料分析测试方法》.郭立伟等编. 兵器工业出版社.2008
《材料分析方法》第 2 版.周玉编.机械工业出版社.2004
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2017年哈尔滨理工大学材料分析技术考研复试大纲复试大纲