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3023 《材料分析测试技术》考试大纲
考试科目:
材料分析测试技术
考试形式和试卷结构:
一、试卷性质
试卷满分为 100 分;
考试时间为 180 分钟。
二、答题方式
闭卷(笔试)。
三、试卷题型结构
名词解释(20 分) 10 题左右;
简答题 (40 分) 5 题左右;
论述题(40 分) 2 题左右。
四、考试主要内容及要求
X 衍射分析、扫描电镜分析和透射电镜分析三大内容在物相分析、点阵常数
测定、晶体结构和表面形貌分析方面的内容是考试的重点。
1、X 射线的性质与衍射基础
主要考查考生对射线的本质、射线的产生、x 射线与物质的相互作用以及 x
射线衍射的试验方法的掌握程度。
重点考查考生对 x 射线物相分析、点阵常数的精确测定、宏观应力测定和织
构测定的理解和掌握程度。
2、电子显微分析原理
重点考查考生对像衬形成原理、电子衍射原理和衍射衬度成像分析的掌握情
况。是考试的重点内容之一。
3、扫描电子分析基础
重点考查学生对扫描分析技术的应用。
4、透射显微分析基础
重点考查学生对透射分析技术的应用。
5、其他分析测试方法
如热分析方法、电子探针微区分析等内容,要求考生对其基本理解和应用范
围有基本的理解。
五、参考书目
1、《材料分析测试技术》齐海群 主编,北京大学出版社,2011
2、《现代材料分析测试技术》管学茂 等编著,中国矿业大学出版社,2013

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